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上海北臻电子科技取得一种微电子元器件老化试验插座专利,在实现电子元器件快速放入老化箱的过程中保证其检测过程稳定性:电子器件
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国家知识产权局信息显示,上海北臻电子科技有限公司取得一项名为“一种微电子元器件老化试验插座”的专利,授权公告号CN223597715U,申请日期为2024年11月电子器件。专利摘要显示,本实用新型
2025-11-28
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