上海北臻电子科技取得一种微电子元器件老化试验插座专利,在实现电子元器件快速放入老化箱的过程中保证其检测过程稳定性:电子器件

国家知识产权局信息显示,上海北臻电子科技有限公司取得一项名为“一种微电子元器件老化试验插座”的专利,授权公告号CN 223597715 U,申请日期为2024年11月电子器件。专利摘要显示,本实用新型公开了一种微电子元器件老化试验插座,涉及到老化测试设备技术领域,包括老化箱,所述老化箱的下方设置有活动座,所述活动座的两侧中部均开设有放置槽。本实用新型通过在老化箱的下方设置活动座,活动座的两侧中部均设置有放置槽,待检测的电子元器件可以放入放置槽内,通过在放置槽的槽口处设置固定框,固定框的两侧均设置有插槽,插槽内设置有插板,插板的一端设置有压板,通过在老化箱的下方设置压块,活动座在带动电子元器件上升并使其进入老化箱的过程中,压块与压板配合可以带动插板运动,以使得插板将电子元器件夹紧固定,在实现了电子元器件快速放入老化箱的过程中保证了其在检测过程中的稳定性。

天眼查资料显示,上海北臻电子科技有限公司,成立于2014年,位于上海市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业电子器件。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析,上海北臻电子科技有限公司参与招投标项目8次,专利信息29条,此外企业还拥有行政许可2个。

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来源:市场资讯

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